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芯片測試冷卻循環(huán)系統(tǒng)

分類:行業(yè)新聞 192

 

芯片測試冷卻循環(huán)系統(tǒng)-冠亞恒溫

無錫冠亞恒溫制冷(LNEYA)的液體溫度控制技術(shù),主要用于半導體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,溫度范圍-85℃~250℃,適合各種測試要求。無錫冠亞不斷探索和研究元件測試系統(tǒng),致力于解決電子元器件中溫度控制滯后的問題,冷卻技術(shù)可直接從300℃進行冷卻。該產(chǎn)品適用于電子元器件的jing確溫度控制需求。
半導體測試水冷機廣泛應用于集成電路,芯片,電子,半導體,晶振,石英晶振,低溫泵,液氦制冷機,液氦壓縮機,飛輪儲能、電子制造、石墨、超聲波冷卻、印刷等工業(yè)生產(chǎn),半導體冷水機它能控制現(xiàn)代工業(yè)機械化生產(chǎn)所要求溫度,從而大大提高了生產(chǎn)效率及產(chǎn)品質(zhì)量。
半導體測試水冷機在用于惡劣環(huán)境的半導體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-85℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其它環(huán)境測試模擬。
主要優(yōu)勢:
1.溫控精度:±1℃;
2.實時監(jiān)測待測元件真實溫度;
3.針對PCB電路板上眾多元器件中的某一單個IC(模塊),可單獨進行高低溫沖擊,而不影響周邊其它器件;
5.對測試機平臺上的IC進行溫度循環(huán)/沖擊;
6.對整塊集成電路板提供準確且快速的環(huán)境溫度。

芯片測試冷卻循環(huán)系統(tǒng)-冠亞恒溫

芯片測試冷卻循環(huán)系統(tǒng)-冠亞恒溫

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芯片測試冷卻循環(huán)系統(tǒng)-冠亞恒溫

 

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